sequip-logo - laser probes

 

Contact met Prolyse

Telefoon: +31 (0)162 383100
Contactformulier »

Particle Characterization

Sinds de oprichting van Sequip in het jaar 1993, is er nog steeds toenemende vraag voor laser probes om realtime informatie over deeltjes karakterisering van formaat. vorm, morfologie etc in ontwikkeling en formulering van  laboratorium processen, proefproducties, onderzoek etc., te verkrijgen.

Sequip wil voldoen aan de wensen van de klant met een optimaal meetsysteem voor elke toepassing op basis van laser probes.

 

Voordelen

  • systemen gebaseerd op statistische analyse van maar dan 100.000 fotos
  • Montage van de meetsensor direct in de reakter of in een sample bypass
  • Geen monstername nodig
  • In-situ operation van petri-schaal, erlemeyer tot en met reaktoren
  • laser probe die eenvoudig in het proces gebracht kan worden

gevolg:

  • Stabiliteits controle onder process omstandigheden
  • Snellere ontwikkeling van nieuwe formules
  • 24hr per dag op elk moment meten van de deeltjes

Offerte aanvragen of vragen?

Wilt u graag een vrijblijvende offerte ontvangen of heeft u vragen?

Neem dan contact met ons op via:
Telefoon: +31 (0)162 383100
of klik hier voor het contactformulier

+Lees meer over Sequip Laser Probes

 

 

Sequip Laser Probes

Ga hier verder naar alle informatie over prestaties, accessoires, kalibratie instrumenten en verbruiksartikelen.

 

Applicaties

enkele applicaties

  • In-situ process controle
  • Deeltjesgrootte verdeling van suspensies en emulsies
  • Dynamische verdeling van deeltjesgrootte van disperse phase in oorspronkelijke concentratie
  • Optimalisatie en beheersing van processen
  • Meten van droge poeders en granulaties
  • Beeld analyse (image analysis) met PIA – Particle Image Analyzer
  • etc. etc.

 

 


laser-probes-deeltjes-karakterisering

laser probe voor deeltjes grootte verdeling direct in proces

 

Inline meten en proces controle in real-time

Laser Probes met T.O.F.

De octrooi-geregistreerde PAT laser probe sensortechnologie kwantificeert grootte en aantal deeltjes in aanvankelijk geconcentreerde dispersie op basis van de optische meting van reflectie in verband met TOF (Time of Flight) technologie. De invloed van procesparameters op het product worden snel en effectief weergegeven. In tegenstelling tot normale particle analyse apparatuur, werken PAT Sensor laser probes met een variabel constant bewegende Focus die garant staat voor de hoogst mogelijke resolutie voor deeltjes in het brandpunt over een grote afstand.
In Situ PAT Sensoren herkennen de deeltjesgrootteverdeling van verdund en oorspronkelijke concentraties van suspensies en emulsies, alsmede van droge producten.
Door de transparante signaal analyse gebaseerd op de nieuwste ontwikkelingen op het gebied van laser gebaseerde analyse technologie door Sequip, kan de operator live resultaten zien onder in situ omstandigheden.
Afmetingen, het profiel van het signaal en de vorm van oppervlak van de deeltjes kunnen worden geïdentificeerd en geanalyseerd om tot een reëel beeld van het monster / proces onder analyse.

Onze Producten

Wij bieden custom-made oplossingen en systemen gebaseerd op de PAT technologie voor vele applicaties met laser probes. Vertel ons het specifieke “meet-probleem” en wij maken er een optimaal meet systeem bij.

Afhankelijk van de toepassing gebruiken we verschillende sensor materialen en sensor diameters. De benodigde laser energie is afhankelijk van de aard van het te meten product. Omstandigheden zoals temperatuur, druk en concentratie bepalen de specificaties van de sensor zelf. De analyse software bestuurd het gehele proces continue en analyseert real time deeltjes morfologie met een dynamisch meet bereik.

Onze laser probes systemen zijn modulair opgebouwd. Op deze manier kunnen we gemakkelijk custom-made oplossingen configureren voor vrijwel alle applicaties.

Alle laser probes systemen werken met het gepatenteerde ORM systeem (Optical Reflection Measurement).